Applied Electron Microskopy - Angewandte Elektronenmikroskopie, Bd. 1
Für grundlegende Weiterentwicklungen ist in vielen Fällen eine sehr genaue Kenntnis der Struktur der Schichtsysteme unumgänglich, diese ist allerdings oft auch nur schwer zugänglich.
Im Rahmen dieser Arbeit zeigt der Autor, wie leistungsfähig die Berechnung sogenannter "Paarverteilungsfunktionen" anhand von Streuexperimenten mit hochenergetischen Elektronen zur Strukturanalyse von Seltenerdmetall/Eisenviellagenschichten ist. Unumgänglich ist dabei eine grundlegende Untersuchung der Struktur der einzelnen Materialien, sowie etwaige Besonderheiten, die sich bei deren Kombination ergeben. Dazu ist oft ein direkter Vergleich gemessener Streuintensität sehr hilfreich. Ergänzt durch theoretische Berechnungen lassen sich insgesamt sehr genaue, aussagekräftige und interessante Ergebnisse erzielen.
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