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Selbsttest mit Akkumulatoren

Frank Mayer

ISBN 978-3-89722-384-4
130 Seiten, Erscheinungsjahr: 2000
Preis: 40.50 €
Steigende Qualitätsanforderungen machen einen gründlichen Test aller Chips nach der Fertigung zwingend notwendig. Mit zunehmender Komplexität der Chips lassen sich zwei wesentliche Anforderungen an den Test, hohe Fehlererfassung bei gleichzeitig kurzer Testzeit, nur noch mit sogenannten Selbsttestverfahren bewältigen, bei denen die nötigen Testhilfsmittel in jeden Chip integriert werden. Dabei segmentieren sogenannte Testregister die Schaltung in mehrere Teilschaltungen, die mithilfe der Testregister unabhängig voneinander getestet werden können. Dazu werden einige bereits in der Schaltung vorhandene Register durch zusätzliche Gatter zu Testregistern erweitert. Diese Gatter vergrößern jedoch die Chipfläche und damit die Wahrscheinlichkeit, dass ein Chip nach der Fertigung Fehler enthält. Außerdem können sie die maximale Betriebsgeschwindigkeit beeinträchtigen.

Diese Nachteile entfallen, wenn die Testhilfsmittel allein aus schaltungseigenen Modulen zusammengesetzt werden. Die Dissertation betrachtet dazu sogenannte Akkumulatoren, die sich aus einer arithmetischen Einheit wie einem Addierer und einem Register konfigurieren lassen, also Modulen, die in vielen Schaltungen bereits vorhanden sind. Sie beschreibt Verfahren, mit denen sich ein Selbsttest mit möglichst geringem Hardware-Mehraufwand und gleichzeitig geringer Testzeit in eine Schaltung integrieren lässt.

Keywords:
  • Selbsttest
  • BIST
  • Akkumulator
  • Testregister
  • Register-Transfer-Ebene

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