Um das Streuverhalten von Gegenständen im MMW-Bereich in verschiedenen Messgeometrien genauer beschreiben zu können, wird mit Hilfe numerischer Berechnungsverfahren u.a. das Streuverhalten dielektrischer Körper analysiert. Ausgehend von der reinen Fourierraumbetrachtung werden Methoden vorgestellt, welche unter Berücksichtigung des Streuverhaltens der beleuchteten Objekte kombinierte Aussagen zu Auflösungsvermögen und Sichtbarkeit von Objekten zulassen.
Zur messtechnischen Bestimmung der gestreuten Felder wird ein multistatisches Messsystem mit zirkularer synthetischer Apertur und interferometrischer Erweiterung vorgestellt. Die Rekonstruktionsergebnisse zeigen, dass bei schräger Beleuchtung alle Inhomogenitäten, sowohl material- als auch strukturbedingt, sowie Spiegelpunkte lokalisiert werden können.
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