Innovative Verfahren zur Erweiterung der Mess- und Prüftechnik von MMICs
Niels Berger
ISBN 978-3-8325-0505-9
164 Seiten, Erscheinungsjahr: 2004
Preis: 40.50 €
Im Mittelpunkt dieses Buches steht die Erweiterung der Mess- und
Prüftechnik von MMICs hinsichtlich der Lokalisierung von Design- oder Schaltungsfehlern
während der Prototypen-Phase. Besondere Aufmerksamkeit wird
auf die weitestgehende Vermeidung von Störeinflüssen (auf das Testobjekt) durch
die Messung selbst sowie auf eine Berücksichtigung der Schaltungsstruktur zur
bestmöglichen Ortsauflösung in Hinblick auf die Fehler-Lokalisierung gelegt.
Ein Hindernis für zeitnahe und damit konkurrenzfähige Entwicklungszyklen
im Bereich der Mikrowellen- und Hochfrequenz-Komponenten ist das Fehlen innovativer
Hilfsmittel zur umfassenden Analyse neuer Schaltungs-Komponenten
auf potenzielle Fehlfunktionen. Bisherige Messtechniken sind entweder kontaktgebunden
(an zuvor festgelegte Messpunkte) und damit sowohl wenig flexibel
als auch unzuverlässig, da die gesuchten Schaltungsfehler von dem (durch die
Messkontaktierung) verursachten Fehlverhalten nicht immer eindeutig zu unterscheiden
sind oder erlauben es nur eine Fehlfunktion festzustellen, ohne diese
lokalisieren zu können.
Die hier vorgestellte Erweiterung der Messmöglichkeiten bei MMICs
erstreckt sich auf eine Ortsauflösung, die im $\mu$m-Bereich liegt, auf die Verminderung
bzw. Kontrollierbarkeit des Störeinflusses der Messung auf das Testobjekt
sowie auf den "Informationsgehalt" der Messdaten, die mittels inverser Feldtransformation
einen Rückschluss auf Betrag, Phase und Richtung des Signalflusses zulassen.